影像測量儀該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域, 在機械、 電子、儀表、 塑膠等行業被廣泛使用。
二次元影像式測繪儀VMS-1510G該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域, 在機械、 電子、儀表、 塑膠等行業被廣泛使用。
二次元影像式測繪儀VMS該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域, 在機械、 電子、儀表、 塑膠等行業被廣泛使用。
全自動影像測量儀FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技術標準ASTM及B568,DIN60987, ISO3497的X一射線熒光分析法來進行測量, 下但可以測量金屬層厚度及金屬之間的比重, 還可以進行金屬物料分析。
FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技術標準ASTM及B568,DIN60987, ISO3497的X一射線熒光分析法來進行測量, 下但可以測量金屬層厚度及金屬之間的比重, 還可以進行金屬物料分析。